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应力仪(双折射测量系统)

发布时间:2018-08-13 16:28
作者:admin

世界上最先进的低双折射测量技术

   成立于1971年,Hinds Instruments已成长为利用偏振调制技术的领导者.我们将继续为高精度的偏振测量努力开发/改进系统及部件.

 

   我们的科学家和工程师已开发了低双折射测量技术, 用于改进核心产品的性能, 并将此项开发用于Exicor双折射测量系统,一个超越了先前及当前技术的计量平台.

 

   因为Exicor平台的引入,超过90%的氟化钙玻璃和融石英玻璃厂家已采用这项领先技术.Exicor的工业名单正在扩展,包含现在的液晶玻璃生产商.

 

   Exicor已成为国际顶尖研究机构和光学玻璃生产商的首选.系统性能也被介绍先进技术/设备的顶尖杂志Review of Scientific Instruments所报道.

 

   此外, Exicor双折射测量系统已获得无数荣誉. 包含:

    2000年 Photonics Circle of Excellence Award 世界上最创新技术的光电产品奖

    2001年 R&D 100 Award 世界上科学领域最先进的100项新技术

 

性能参数

 

延迟度范围:         

分辨率:             

重复精度:            

角度分辨率/重复精度: 

测量时间:            

调制频度:            

波长:                

光斑大小:           

解调分析技术:        

测量单位:           

最大样品尺寸:        

0.005nm ~ 315nm

0.001nm

+/-0.015nm(延迟度<1nm)或+/-1%(延迟度>1nm)

0.01度 +/-0.05度(延迟度为5nm时的值)

最快10点每秒(数据收集时间)

50kHz

632.8nm HeNe激光(可定制其他波长,如193nm,1550nm等)

1mm(100um可选)

锁相放大器

nm(延迟度),度(角度)

150X150mm(可定制其他尺寸, 最大达1600X2000mm)

 

 

重要特征

  • 低双折射测量中,灵敏度不可超越

  • 双折射幅度与角度同时测量

  • 重复精度高

  • 测量速度快

  • 采用专利的PEM(光弹调制)技术,光学系统中无移动部件

  • 自动测量不同尺寸光学样品

  • 操作简单方便

 

应用

  • 光学器件

  • 液晶玻璃基板, 液晶滤光片

  • 激光晶体

  • DVDs

  • 光刻机部件, 如氟化钙窗口, 融石英光学器件,光掩膜板等

  • 相机镜头

  • 太阳能硅片,半导体晶圆

 


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